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澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。

ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿(mǎn)足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求。

臺(tái)階儀-澤攸臺(tái)式掃描電鏡 實(shí)際操作中掌握一些技巧能顯著提升工作效率。對(duì)于表面粗糙的樣品，建議先從較低倍數(shù)開(kāi)始觀(guān)察，找到特征區(qū)域后再提高倍數(shù)。調(diào)節(jié)像散時(shí)，可選擇樣品上的孔洞或邊緣作為參考，交替調(diào)節(jié)X、Y方向直至圖像在各個(gè)方向都清晰。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡實(shí)用技巧與案例 ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng)，擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍。原位實(shí)驗(yàn)附件包括拉伸臺(tái)，可在觀(guān)察樣品的同時(shí)施加拉伸力，實(shí)時(shí)記錄材料變形和斷裂過(guò)程。加熱臺(tái)最高工作溫度可達(dá)1200℃，配合高溫樣品座，可觀(guān)察材料在加熱過(guò)程中的相變、燒結(jié)等動(dòng)態(tài)變化。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購(gòu)配置指南 ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng)，擴(kuò)展了其應(yīng)用范圍。原位實(shí)驗(yàn)附件包括拉伸臺(tái)，可在觀(guān)察樣品的同時(shí)施加拉伸力，實(shí)時(shí)記錄材料變形和斷裂過(guò)程。加熱臺(tái)最高工作溫度可達(dá)1200℃，配合高溫樣品座，可觀(guān)察材料在加熱過(guò)程中的相變、燒結(jié)等動(dòng)態(tài)變化。